|
|
Большая Советская Энциклопедия (цитаты)
|
|
|
|
|
Дебая - Шеррера метод | Дебая - Шеррера метод (далее Д) метод исследования структуры мелкокристаллических материалов с помощью дифракции рентгеновских лучей (метод поликристалла). Назван по имени П. Дебая и немецкого физика П. Шеррера, предложивших этот метод в 1916. Узкий параллельный пучок монохроматических рентгеновских лучей, падая на поликристаллический образец и отражаясь от из которых он состоит, дает ряд коаксиальных, т. е. имеющих одну общую ось, дифракционных конусов (рис. 1). Осью конусов служит направление первичного пучка рентгеновских лучей. Вершины их лежат внутри исследуемого объекта, а углы раствора определяются согласно Брэгга - Вульфа условию: nl = 2dsin q (здесь n - целое положительное число, l - длина волны рентгеновских лучей, d - расстояние между параллельными плоскостями узлов пространственной решетки q - угол между отражающей плоскостью и падающим лучом). Угол раствора конуса равен учетверенному углу отражения q . Интенсивность и положение дифракционных конусов фиксируются на фотопленке или одним из ионизационных методов (рис. 2). При попадании дифрагирующих лучей на фотопленку они оставляют след в виде ряда дифракционных линий, форма которых зависит от геометрии рентгеносъемки: взаимного расположения образца, фотопленки и падающего пучка рентгеновских лучей. В некоторых камерах для съемки рентгенограмм с поликристаллов фотопленка располагается по поверхности цилиндра, ось которого перпендикулярна падающему пучку рентгеновских лучей, а образец помещается на оси цилиндра. Схематическое расположение приборов при этом виде съемки показано на рис. 3, а рентгенограмма (т. н. дебаеграмма), получаемая таким способом, приведена на рис. 4.
В других камерах плоская пленка помещается перпендикулярно к падающему пучку рентгеновских лучей, так что луч, не испытывающий при прохождении через образец дифракции, попадает в центр пленки. При таком способе съемки фиксируется полное дебаевское кольцо, т. е. кривая пересечения дифракционного конуса с фотопленкой. Дебаеграммы такого вида обычно применяются для определения текстуры (преимущественной ориентировки
Измерение углов раствора дифракционных конусов позволяет определить по условию Брэгга - Вульфа межплоскостные расстояния d. В некоторых случаях этих данных, в совокупности с измерением интенсивности лучей в каждом дифракционном конусе, достаточно для полного определения структуры решетки.
Д. - Ш. м. особенно важен для решения различных технических задач; например, он позволяет исследовать структурные изменения. возникающие при различных обработках металлов и сплавов. В случае исследования пластически деформированных этот метод позволяет определять наличие текстуры в образце, при термообработке - следить за фазовыми превращениями; Д. - Ш. м. также широко применяется в минералогии и химии для идентификации различных минералов и соединений.
Лит. см. при ст. Рентгеновский структурный анализ.
В. И. Иверонова.
|
Для поиска, наберите искомое слово (или его часть) в поле поиска
|
|
 |
 |
 |
|
