Эшелетт

Эшелетт (далее Э) эшелет (франц. echelette, от echelle - лестница), отражательная дифракционная решетка, способная концентрировать дифрагированное излучение в спектре одного порядка (см. Порядок интерференции), ослабляя остальные, в том числе и самый яркий спектр нулевого порядка. Изменения распределения излучения по спектрам и высокой концентрации энергии в узкой спектральной области достигают, вводя дополнительную разность хода в пределах каждого отдельного штриха, имеющего, как правило, треугольный профиль. Отражательные решетки типа Э обычно нарезают специальными резцами на металлической поверхности ( латунь, и используют для наблюдения спектров 5-10 порядков в инфракрасной области. Возможно также создание Э для видимой и ультрафиолетовой спектральных областей.   Э представляет собой систему одинаковых зеркальных площадок (рис.) шириной а, плоскости которых параллельны одна другой и образуют с плоскостью заготовки угол i. При падении на Э параллельного пучка лучей на каждой зеркальной площадке происходит дифракция, как на узкой щели, и пучки, продифрагировавшие на всех площадках, интерферируют. Концентрация энергии излучения в заданном направлении происходит при выполнении следующих условий: 1) направление на нулевой максимум от отдельного зеркального элемента (штриха) совпадает i с направлением на главный дифракционный максимум от всей решетки; 2) направление на спектр нулевого порядка всей решетки совпадает с направлением минимума при дифракции от отдельного зеркального элемента. Первое требование означает, что направление j из условия максимумов для отражательной решетки d (siny + sinj) = nl должно совпадать с углом b = -a. Приняв во внимание правило знаков и учитывая соотношения вида j = i - a и y = i + a, получают выражение 2 cos (y - i) sini = nld, позволяющее по заданному углу падения и длине волны l вычислить угол наклона зеркальной грани i, называемый "углом блеска" и изменяющийся у современных Э в пределах 5-20°. Второе требование означает, что для спектра нулевого порядка, т. е. при y = -j, рассматриваемое направление должно совпадать с направлением b из условия минимумов при дифракции от отд. зеркального элемента: a(sina + sinb) = kl. Учет соотношения - b = y + i дает выражение 2sin i cos i = кl/а, которое при известном профиле штриха i позволяет вычислить его ширину а. Если условия 1-е и 2-е выполняются, максимум отраженной от решетки энергии располагается в направлении j = 2i - y, совпадающем с направлением зеркального отражения от плоскости штриха. Отражательные решетки чаще всего используют в т. н. автоколлимационной схеме, для которой j = y = i. Из условия максимумов для этого случая легко получить длину волны, которой соответствует максимум концентрации энергии: nlmax = 2d sin i. Область длин волн вблизи lmax называется областью высокой концентрации энергии в данном порядке спектра n. Современные Э в спектре одного порядка концентрируют до 70-80% энергии падающего излучения. Использование Э позволяет создавать спектральные приборы, не уступающие по светосиле лучшим приборам с дисперсионными призмами. В СССР изготовляют Э с числом штрихов от 600 на 1 мм для видимой области до 0,3 штриха на 1 мм для далекой инфракрасной области (длины волн ~500 мкм). Размеры Э от 100 х 100 мм (100-300 штрихов на мм) до 300 х 300 мм для Э с 12 и менее штрихами на 1 мм.   Лит.: Пейсахсон И. В., Оптика спектральных приборов, Л., 1975; Нагибина И. М., Интерференция и дифракция света, Л., 1974; Н. И., Волновая оптика, М., 1971.   Л. Н. Капорский.