|
|
Большая Советская Энциклопедия (цитаты)
|
|
|
|
|
Шлирен-метод | Шлирен-метод (далее Ш) метод Теплера, метод обнаружения оптических неоднородностей в прозрачных преломляющих средах и дефектов отражающих поверхностей. Применяется для нахождения т. н. свилей в оптически прозрачных материалах, для исследования качества зеркал и других оптических деталей. Ш-м. применяют для исследования распределения плотности воздушных потоков, образующихся при обтекании моделей в аэродинамических трубах, используют для проекции на экран изображений (получаемых в виде оптических неоднородностей) в пузырьковых камерах, в телевизионных системах проекции на большой экран, в системах воспроизведения изображений с термопластических и везикулярных фотоматериалов и др. (см. Термопластическая запись, Фотография). Ш-м. предложен немецким ученым А. Теплером в 1867.
В Ш-м. пучок лучей от точечного или щелевого источника света (рис., 1), линзой или системой линз и зеркал (2—2") направляется через исследуемый объект (3) и фокусируется на непрозрачной ширме (5) с острой кромкой (на т. н. ноже Фуко), так что изображение источника проектируется на самом краю ширмы. Если в исследуемом объекте нет оптических неоднородностей, то все лучи задерживаются ширмой. При наличии оптических неоднородности (4) лучи будут рассеиваться ею и часть их, отклонившись, пройдет выше края ширмы. Поставив за ширмой проекционный объектив (6), можно спроектировать на экран (7) эти лучи и получить изображение (8) тех неоднородностей, которые рассеивали лучи. Оптические неоднородности можно непосредственно наблюдать глазом, если вместо проекционного объектива поставить окуляр и смотреть через него на объект. Иногда вместо точечного источника света и ножа Фуко применяют оптически сопряженные решетки (растры), перекрывающие ход лучам при отсутствии на их пути неоднородностей. Применяются также решетки со щелями в виде цветных светофильтров, позволяющие нагляднее определять характер оптических неоднородностей. Получение более грубой (теневой) картины зон резкого изменения оптической плотности объекта возможно без перекрытия лучей ножом Фуко или решетками. Просвечивание объекта двумя оптическими системами, установленными под углом друг к другу, позволяет получать стереоскопическую картину распределения неоднородностей в объекте (см. Стереоскопическое изображение).
Лит.: Васильев Л. А., Теневые методы, М., 1968; Валюс Н. А., Растровые оптические приборы, М., 1966.
Н. А. Валюс.
|
Для поиска, наберите искомое слово (или его часть) в поле поиска
|
|
 |
 |
 |
|
|
|
Новости 23.12.2024 08:33:25
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
