|
|
Большая Советская Энциклопедия (цитаты)
|
|
|
|
|
Рентгеновская топография | Рентгеновская топография (далее Р) совокупность рентгеновских дифракционных методов изучения различных дефектов строения в почти совершенных К таким дефектам относятся: блоки и границы структурных элементов, дефекты упаковки, дислокации, скопления примесей, деформации. Осуществляя дифракцию рентгеновских лучей на различными методами "на просвет" и "на отражение" в специальных рентгеновских камерах, получают рентгенограмму — дифракционное изображение называемое в структурном анализе топограммой. Физическую основу методов Р составляет дифракционный контраст в изображении различных областей в пределах одного дифракционного пятна. Этот контраст формируется вследствие различий интенсивностей или направлений лучей от разных точек в соответствии с совершенством или ориентацией решетки в этих точках. Эффект, вызываемый изменением хода лучей, позволяет оценивать размеры и дезориентации элементов субструктуры (фрагментов, блоков) в а различие в интенсивностях пучков используется для выявления дефектов упаковки, дислокаций, сегрегаций примесей и напряжений. Р отличают от др. рентгеновских методов исследования высокая разрешающая способность и чувствительность, а также возможность исследования объемного расположения дефектов в сравнительно крупных по размеру почти совершенных (до десятков см).
Линейное разрешение многих методов Р составляет от 20 до 1 мкм, угловое разрешение —от 1" до 0,01“. Чувствительность определяется контрастом в интенсивностях дифрагированных лучей от "удачно" и "неудачно" ориентированных областей и от "совершенных" и "искаженных" областей
Методы Р различаются по области используемых углов дифракции, по характеру выявляемых дефектов (макроскопические дефекты, дефекты решетки), степени несовершенства и дефектности чувствительности и разрешающей способности. На рис. 1—5 приведены принципиальные схемы некоторых методов Р и топограммы полученные этими методами. Преобразование рентгеновских изображений в видимые с последующей их передачей на телевизионный экран позволяет осуществлять контроль дефектности в процессе различных воздействий на них при технологической обработке или при исследовании их свойств.
Лит.: Иверонова В. И., Ревкевич Г. П., Теория рассеяния рентгеновских лучей, М., 1972: Умайский Я. С., Рентгенография металлов, М., 1967; Лютцау В. Г., Фишман Ю. М., Метод дифракционной топографии на основе сканирования в широком пучке рентгеновских лучей, "Кристаллография", 1969, т. 14, в. 5, с. 835: Ровинский Б. М., Лютцау В. Г., Ханонкин А. А., Рентгенографические методы исследования структурных несовершенств и дефектов решетки в материалах, "Аппаратура и методы рентгеновского анализа", 1971, в. 9, с. 3—35; Kozaki ., Hashizume ., Kohra ., High-resolution video display of X-ray topographs with the divergent Laue method, "Japanese Journal of Applied Physics", 1972, v. 11, № 10, p. 1514.
В. Г. Лютцау.
|
Для поиска, наберите искомое слово (или его часть) в поле поиска
|
|
 |
 |
 |
|
|
|
Новости 31.10.2025 11:34:58
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
