|
|
Большая Советская Энциклопедия (цитаты)
|
|
|
|
|
Микроинтерферометр | Микроинтерферометр (далее М) прибор, применяемый для измерений неровностей на наружных поверхностях с направленными следами механической обработки, а также для определения толщины пленок, величины малых перемещении и т. и. Впервые М разработаны В. П. Линником в 1933. В оптической схеме М использованы интерферометр и микроскоп, что позволяет одновременно осуществлять наблюдение исследуемой поверхности и интерференционной картины, полученной в результате взаимодействия двух когерентных световых волн: волны сравнения, отраженной от образцового зеркала, и волны, отраженной от исследуемой поверхности и деформированной имеющимися на ней микронеровностями. Интерференционная картина в монохроматическом свете представляет собой чередование темных и светлых полос, форма которых в увеличенном масштабе воспроизводит профиль контролируемого участка поверхности (рис.). Высота h неровности поверхности определяется через искривление а и ширину b интерференционной полосы: h = а/b ×l/2, где l — средняя длина волны используемого участка спектра. С помощью М можно измерять высоты от 0,03 до 1 мкм. Изготовляют М, работающие в белом и монохроматическом свете. М снабжают окулярным микрометром для измерений или окуляром и фотокамерой для регистрации интерференционной картины. Некоторые М имеют устройства для измерений неровностей до 10 мкм по отпечаткам, снятым с исследуемых поверхностей.
Лит.: Егоров В. А., Оптические и щуповые приборы для измерения шероховатости поверхности, 2 изд., М, 1965.
Л. Н. Логачева.
|
Для поиска, наберите искомое слово (или его часть) в поле поиска
|
|
 |
 |
 |
|
